网站备案的重要性,云南网上办事大厅官网,上海建站网络科技有限公司,网络推广和网络营销的区别XPS#xff08;X-ray Photoelectron Spectroscopy#xff09;#xff0c;X射线光电子能谱#xff0c;可以说是材料研究中必不可少的一类分析测试手段了。今天我们就来讲讲#xff0c;什么情况下我们需要用到XPS#xff0c;以及拿到数据之后应该怎样进行数据处理分析。 XP…XPSX-ray Photoelectron SpectroscopyX射线光电子能谱可以说是材料研究中必不可少的一类分析测试手段了。今天我们就来讲讲什么情况下我们需要用到XPS以及拿到数据之后应该怎样进行数据处理分析。 XPS测试是以X射线为激发光源的光电子能谱是一种高灵敏超微量表面分析技术样品分析的深度约为20埃可分析除H和He以外的所有元素可做定性及半定量分析 定性从峰位和峰形可以获知样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息 半定量从峰强可以获知表面元素的相对含量或浓度 定性分析具体方法 A对化学成分未知的样品——全谱扫描0-1200eV 图谱分析步骤 1、在XPS谱图中首先鉴别出C1s、O1s、C(KLL)和O(KLL)的谱峰一定存在且通常比较明显。 2、鉴别各种伴线所引起的伴峰 3、确定主要元素的最强或较强的光电子峰或俄歇电子峰再鉴定弱的谱线。 4、辨认p、d、f自旋双重线核对所得结论。 鉴别通常采用与XPS数据库和标准谱图手册的结合能进行对比的方法 XPS数据库一般采用NIST XPS database:
https://srdata.nist.gov/xps/selEnergyType.aspx 通过这个网站你可以查到几乎xps所需的所有数据包括对双峰还应考虑两个峰的合理间距、强度比等。 网站使用截图 XPS表征手册一般采用 Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy: a reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data. 1995. 还可以对比XPS电子结合能对照表进行查找文末资源包内含有了这些表你就可以指导每个元素分峰的位置。 结合能对照表部分内容 B分析某元素的化学态和分子结构——高分辨谱测化学位移 扫描宽度通常为10-30eV以确保得到精确的峰位和良好的峰形。 定量分析具体方法 经X射线辐照后从样品表面出射的光电子的强度I指特征峰的峰面积与样品中该原子的浓度n有线性关系因此可以利用它进行元素的半定量分析。 简单的可以表示为I n*S
S称为灵敏度因子有经验标准常数可查但有时需校正 对于对某一固体试样中两个元素i和j, 如已知它们的灵敏度因子Si和Sj,并测出各自特定谱线强度Ii和Ij,则它们的原子浓度之比为:
ni:nj(Ii/Si):(Ij/Sj 免责声明部分文章整合自网络因内容庞杂无法联系到全部作者如有侵权请联系删除我们会在第一时间予以答复万分感谢。
